兩廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：兩廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱與低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)功能可以溶合在一起做成一臺(tái)設(shè)備，它就是高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備。即是一臺(tái)可以單獨(dú)做高溫沖擊試驗(yàn)+單獨(dú)做低溫沖擊試驗(yàn)+高低溫交變沖擊試驗(yàn)的設(shè)備。

產(chǎn)品型號(hào)AP-CJ
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-12
訪問量1509

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

冷熱沖擊箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 冷熱沖擊測(cè)試箱冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī) led冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) *冷熱沖擊箱高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī) 極冷極熱設(shè)備熱沖擊試驗(yàn)箱三箱高低溫沖擊箱子產(chǎn)品三溫測(cè)試箱高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī) 沖擊試驗(yàn)機(jī) 低溫沖擊箱快速變溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱高溫沖擊箱定制

查看全部

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ	價(jià)格區(qū)間	5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,道路/軌道/船舶,綜合

兩廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱與低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)功能可以溶合在一起做成一臺(tái)設(shè)備，它就是高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備。即是一臺(tái)可以單獨(dú)做高溫沖擊試驗(yàn)+單獨(dú)做低溫沖擊試驗(yàn)+高低溫交變沖擊試驗(yàn)的設(shè)備。

兩廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):

它們方便于在溫度瞬間變化對(duì)試品的性能和品質(zhì)作出評(píng)價(jià)。愛佩科技生產(chǎn)的具有以下幾個(gè)基本特點(diǎn)：

A、試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，外殼采用進(jìn)口激光加工而成,平整光滑,制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方,給人帶來(lái)美感,維護(hù)保養(yǎng)方便。

B、零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有先進(jìn)水平的原裝國(guó)外進(jìn)口件，提高了產(chǎn)品的安全性和可靠性，能保證用戶長(zhǎng)時(shí)間、高頻率的使用要求。

C、設(shè)備正常運(yùn)行所需的附帶條件已有配備，買方只需提供動(dòng)力電力、試驗(yàn)消耗品和滿足要求的工作環(huán)境即可。

高溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備|低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)指標(biāo)

工作室尺寸：350×400×350（mm）；500×400×400（mm）；600×500×500（mm）；700×600×600（mm）（W×H×D）

外形尺寸：以選擇每款工作室尺寸的實(shí)際外形尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。

最高溫沖擊范圍： 150℃

低溫沖擊范圍： -65℃

高低溫沖擊范圍有：-40℃～+150℃;-55℃～+150℃;-65℃～+150℃;

高溫室儲(chǔ)存最高溫度范圍: 60℃～+200℃;

低溫室儲(chǔ)存低溫度范圍: 60℃～-75℃;

高溫室升溫時(shí)間：+20℃～+200℃約60分鐘

低溫室降溫時(shí)間：+20℃～-75℃約100分鐘

溫度恢復(fù)時(shí)間: 3~5min（最快轉(zhuǎn)換時(shí)間在10秒鐘內(nèi)可完成）

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度偏差： ≤±2℃

高溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備|低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備安全裝置:

配有:超溫保護(hù);壓縮機(jī)超壓;過載;過流保護(hù);風(fēng)機(jī)過載保護(hù)相序保護(hù),漏電保護(hù);

電源:AC380V50Hz

高溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備|低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備主要用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、兵工業(yè)、航天、BGA、PCB基扳、、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化進(jìn)行試驗(yàn),可確認(rèn)產(chǎn)品在環(huán)境中突變的性能。用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。

產(chǎn)品咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：AP-RBX熱變形溫度試驗(yàn)機(jī)
下一篇：AP-KS高低溫交變濕熱箱

兩廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：